極限センターでは、下記の装置を共同利用のために公開しております。

共同利用機器、会議室などの予 約はこちら。

1.静電加速器

装置メーカー型番 日新ハイボルテージ(株)NT-1700HS
性能 加速電圧1.7MV
可能測定 ザフォード後方散乱分光(RBS)
 薄膜の重元素組成分析
弾性反跳粒子検出法(ERDA)
 薄膜の水素量分析
利用規程 こちら

 

2.粉末X線回折(XRD)

装置メーカー型番 リガク電機(株)RINT2500HF+/PC
性能 加速電圧60kV、電流300mA
ターゲットCu(回転対陰極)
多目的測定アタッチメント
ICDDカードデータ検索(2000年まで)
可能測定 集中光学系
 相同定
 格子定数精密化
 結晶構造解析
平行光学系
 ロッキングカーブ、極点図形
 配向度測定
利用規程 こちら

 

3.走査型電子顕微鏡(SEM)

装置メーカー型番 日本電子(株)JSM-6700F
性能 加速電圧1〜15kV
電界放射型電子銃
分解能1.0nm(15kV)、2.2nm(1kV)
エネルギー分散型X線分析装置(EDS)
可能測定 二次電子検出器
 表面形態
反射電子検出器
 組成像
EDS
 分析元素B-U
利用規程 こちら

 

4.透過型電子顕微鏡(TEM)

装置メーカー型番 日本電子(株)JEM-2000FXII
性能 加速電圧200kV、
分解能0.14nm(格子像)、0.31nm(粒子像)
エネルギー分散型X線分析装置(EDS)
走査透過電子顕微鏡(ASID)
CCDカメラ
可能測定 TEM
 格子像、結晶構造像
 転位、粒径
EDS 
 分析元素B-U
利用規程 こちら

 

問合わせ先:極限センター 末松、鈴木
電話:0258-47-9894、9891
電子メール:suematsu@nagaokaut.ac.jp

5.極限エネルギー密度発生・解析・応用装置(ETIGO-III)

装置メーカー型番 ニチコン(株) ETIGO-III
定格出力 エネルギー: 8MeV(電子)
電流: 5kA
パルス幅: 30ns
装置構成、用途 こ ちらをご覧下さい
利用規程 こちら

 

図9 ETIGO-III全景

6.パルスイオンビーム照射装置(ETIGO-IV)

装置メーカー型番 ニチコン(株)、ETIGO-IV
定格出力 電圧: 400kV,
電流: 13kA
パルス幅: 150ns
繰り返し周波数: 1Hz
装置構成、用途 こち らをご覧下さい
利用規程 こちら

 

図10 ETIGO-IV全景

問合わせ先:極限センター 江、齋藤
電話:0258-47-9892、9891
電子メール:jiang@nagaokaut.ac.jp

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